归一化探测率
基本解释
简解
归一化探测率的词语属性
拼音guī yī huā tàn cè lǜ
拼音字母gui yi hua tan ce lv
拼音首字母gyhtcl
归一化探测率的百科含义
归一化探测率（Normalized Detectivity）是光电探测器的主要性能指标之一，即比探测率。该指标描述的是探测器材料对弱光的探测能力。图片所示是几种常用探测器的归一化探测率值，数值越大表示性能越好。
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