热探针法
基本解释
简解
热探针法的词语属性
拼音rè tàn zhēn fǎ
拼音字母re tan zhen fa
拼音首字母rtzf
热探针法的百科含义
热探针法可以用作硅片N型或者P型的检测。探针工作的基本原理如图1所示。两个探针与编码形成欧姆接触，如热探针比冷探针高25-100℃。电压表跨接在两个探针之间测量电势差，极性的指示可判断材料是N或者P型。
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