可测试性设计
基本解释
简解
可测试性设计的词语属性
拼音kě cè shì xìng shè jì
拼音字母ke ce shi xing she ji
拼音首字母kcsxsj
可测试性设计的百科含义
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。
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